- 日時: 2009年7月16日(木)
- 場所: 横浜市立大学 金沢八景キャンパス 多目的教室
- 参加費: 無料
- 参加登録：参加希望の方は、横浜市立大学・戸坂まで ①お名前、②ご所属、③電子メールアドレスをお知らせ下さい。なお、参加者の皆様の電子メールアドレスを本研究会のメーリングリストに加えさせて頂きたく、今後の案内を希望されない場合はその旨お書き添え下さい。
プログラム
- 13:00-13:10
開会挨拶
横浜市立大学 国際総合科学部 国際総合科学科 基盤科学コース 戸坂亜希
- 1. 13:10-13:50
分光エリプソメータを用いたMg-Ni系調光ミラーの水素化過程の動的観察
産業技術総合研究所 山田保誠
- 2. 13:50-14:30
マルチチャネル分光光度計を用いた偏光計測とその応用
大塚電子 杉田一紘
- 3. 14:30-15:10
顕微鏡対物瞳面での偏光分布の制御とイメージング
大阪大学大学院基礎工学研究科 橋本守
- 15:10-15:20
休憩
- 4. 15:20-16:00
偏光解析法を応用した金属単結晶表面上の物理吸着層に見られる吸着・脱離履歴現象の研究
学習院大 学理学部 荒川一郎, 浜田望, 本修一, 松本由佳, 三浦崇
- 5. 16:00-16:40
反射分光によるSi(001)表面反応のリアルタイム解析
横浜国立大学 大学院工学研究院 大野真也, 田中正俊
- 6. 16:40-17:20
繰り込みエリプソメトリーを用いた液晶、液晶セルのキャラクタリゼーション
長岡技術科学大学 赤羽正志, 木村宗弘
- 7. 17:20-18:00
溶液中偏光計測による金ナノ粒子形状の観測
慶應義塾大学 理工学部電子工学科 BASSAM AL-QADI, 山岡晃洋, 斎木敏治
問い合わせ先：横浜市立大学 国際総合科学部 国際総合科学科 基盤科学コース 戸坂亜希